欢迎您! 2010年9月5日    星期天 设为首页 | 加入收藏 | 联系方式 | 登陆
首页 | 机构简介 | 条码管理 | 条码质量 | EPC/RFID | 应用研究 | 政策法规 | 服务与培训 | 电子业务 | 通知公告 | 条码知识 | 在线咨询 
EPC/RFID
业界动态
EPC/RFID知识
应用案例
RFID产品
标准园地
相关企业
《RFID射频通讯》
 
《RFID射频通讯》电子期刊
   2010年第1期
2010年第1期
发布时间:2010-4-6 17:24:56   浏览次数:145   来源:中国物品编码中深圳分中心

在研发过程中,保证产品的功能性是否能达到用户需求的方法就是对产品进行测试。实践证明,保证产品质量付出最小代价的方法就是在研发阶段进行大覆盖率的有效测试。有效测试可以通过大覆盖率的测试用例设计及实施来保证。

 
 
相关附件下载:
 文件
@2009版权所有 深圳市标准技术研究院 粤ICP备09029970号
                       办公地址:深圳市滨河大道3002号无线电管理大厦十三楼1303室 您是第123921位访客
                      办公电话:(0755)83200183 83200177 83249469 传真号码:(0755)83248113